Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends
Treść karty:
RÜDENAUER F.G. [współaut.] 547,227 BENNINGHOVEN A., RÜDENAUER F.G., WERNER H.W. Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends / A. Benninghoven, F.G. Rudenauer, H.W. Werner. - New York [etc.] : John Wiley and Sons., Inc., [1987]. - XXXV, 1227 s. : il., wykr. ; 24 cm (Chemical Analysis ; Vol. 86) ISBN 0-471-01056-1
Dane karty
Hasło:
RÜDENAUER F.G.
Autor:
BENNINGHOVEN A., RÜDENAUER F.G.,
Sygnatura:
547,227
ISBN:
Rok wydania:
1987
